產品介紹:
SD-300i用于測定單晶材料的表面缺陷，適用于科研、工業生產等需求。該儀器還是一臺半自動高精度定向儀，實現了缺陷和定向雙功能。
產品特點：
缺陷和定向雙功能
配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護罩，確保使用
表格和曲線的形式顯示，一目了然
速度快，重復性好
效率高，數據實時處理
技術參數：
測試時間：1-2分鐘
重復性精度：±5。
測角精度為±15
最小讀數1
典型客戶:
臺灣及國內藍寶石及半導體客戶廣泛應用。
SD-300i晶片表面缺陷測試儀
2026-05-01 10:00 5938次瀏覽
價 格：
面議
北京合能陽光新能源技術有限公司
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